SPECTRO LFP S.3
| Código | Peso | Cantidad | Dimensiones cm L x P x H | Dimensión útil mm | Modelo | Nombre | solicitar |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| LCST0900 | 11 Kg | 1 | 57,4x43,3x16 | 290x200 (superficie máxima) | SPECTRO LFP S.3 | ESPECTROFOTÓMETRO | presupuesto |
| LMSO01168 | 1 | PERFIL-XPERT PRINT 4C | SOFTWARE | presupuesto |
USO:
El espectrofotómetro Spectro LFP Series 3 es un instrumento especial para calibrar impresoras digitales inkjet.
Determina la curva de reflexión espectral.
Un retículo de difracción dentro del monocromo descompone la luz refleja del elemento en las longitudes de onda comprendidas entre 360 y 700 nanómetros (nm). La intensidad de la luz refleja a las longitudes individuales de onda y se mide con una batería de fotodiodos para determinar el factor de reflexión espectral del objeto (R%).
El software elabora estos datos y muestra en el ordenador los valores de reflexión espectral con un paso de 5 o 10 nm o de forma gráfica por medio de las así mencionadas curvas de reflectancia.
DESCRIPCIÓN Y CARACTERÍSTICAS:
Para materiales transparentes y reflectantes.Algunos ejemplo de materiales que se pueden medir de forma completamente automática: textil, vidrio, película de retroiluminación, papel, vinilo, platos de plástico, láminas de yeso, madera, piedra y cerámica.Apertura de medida intercambiable de 2,6 y 8 mm.Medida de los materiales pesados y de gran espesor.3 tipos de lectura (automática, simple, densidad).Calibración automática con blanco de referencia automático.Interfaz para USB para Mac, PC y Linux RS232.Admitido por la mayor parte del software RIP.Velocidad de medida: ca. 10 min. para el 1248 los campos. Medición de superficie máxima: 290 x 200 mm (11,42 x 7.87in).Destino de espesor máx. 20 mm (0.79 in).Medida de paso más pequeño: 0,2 mm (0.01 in).MEDIDA DE APERTURA
Reflexión y transmisión 2,6 y 8 mm (0,08 in, 0,24 in y 0,31 in) (intercambiable). GEOMETRÍA
Reflexión de 45º/0º.Transmisión d/0º.Iluminación física: tipo A.Tiempo de medida: <0,3 s.Repetibilidad: <0,2 ∆E94 en blanco o ± 0,005 D (hasta 1.000D).Sensor de medida: retícula de difracción con diodos.Resolución espectral: 3,5 nm.Campo espectral: 380 ... 780 nmDensidad campo de medida: 0 ... 2.3D.Peso: 11kg.REQUISITOS DEL SISTEMA
Microsoft Windows XP o versiones siguientes (32 y 64 bit).Mac OS X 10.5 o superior (Intel).
